在线研讨会介绍
研讨会主题：深亚微米时代的成品率控制
主办单位：Semiconductor International China 《半导体国际》
举行时间：2008年5月29日（14:00-15:30 ）
研讨会简介：随着对器件性能的需求提升，要求在更高节点集成更多器件和功能以及快速处理速度。在制造商提高工艺复杂性和器件生产效率的同时，对成品率控制显得更加的敏感；如何快速将产品推向市场，成品率的提升成为关键。当制程设备和检测手段、分析方法不断推陈出新时，如何保证器件可靠性？如何在技术的演变和革新中维持高的成品率？
《半导体国际》成品率提升在线研讨会将把主题定位于深亚微米时代的成品率控制，将目光集中于包括从IC设计至制造过程中器件失效机理、可靠性分析，以及成品率相关的工艺改进、在线检测手段和一些综合的成品率提升解决方案。
主要议题
14:00-14:20 黄伟，中芯国际产品经理
Advanced Logic Products FA Methodology ---DFT Scan Diagnosis for the Yield Improvement
·What’s DFT
·Why Need DFT Scan Diagnosis for Yield Improvement
·How Diagnosis Works
·How to Run Diagnosis
·DFT Diagnosis Contribution for the Yield Improvement
14:20-14:40 黄启伦，RFMD威讯半导体有限公司产品可靠工程服务部顾问
Yield /Reliability Concept For Quality Group
基于成品率与产品可靠度相互关系研究，彼此应相辅相成而非互相抵触.对于工程异常, 如何在有限讯息, 通过Layout和 Testing的了解 迅速找到问题所在. 在维护产品可靠性以及解决出货压力下, 实时找出适当的Burn in 或 electronic stress 有效方法来解决问题, 使公司,客户,供货商 彼此达到 win-win的结果。
·Yield Improvement Method
·How We Dispose The Problem Samples
- Testing Coverage and Specifications
- Burn in Method based on Reliability Request
专家嘉宾
演讲专家：黄伟
专家职务：中芯国际产品经理
专家简介：2002年4月浙江大学硕士毕业后加入中芯国际产品部至今。目前负责中芯国际DFT Scan Diagnosis 平台的建立。
演讲专家：黄启伦
专家职务：RFMD威讯半导体有限公司产品可靠工程服务部顾问
专家简介：于2007年加入RFMD。在加入RFMD之前，黄启伦在台积电(2000-2007)任职产品工程暨服务部副经理，负责和产品成品率提升和制程相关技术研发。在(1996-1998)期间于飞利浦电子任职系统研发，负责和控制工程和封装技术发展有关的工艺。黄先生在台湾国立中山大学获得学士和硕士学位。目前拥有1项美国专利和3篇和半导体失效分析中调试设计的论文。
奖品设置凡研讨会进行时完整观看并填写真实注册信息的听众：
1）都将获得《半导体国际》最新杂志一期；
2）获得100元现金（会议现场听众中抽取10名）
3）幸运奖获得200元现金（会议现场提问听众中抽取3名）活动规则：* 凡参加成品率提升在线研讨会的观众，并留下正确的个人信息，均有机会获奖。
* 如果中奖客户提供的信息有误，导致无法联络、确认的，将自动失去兑奖资格。
* 参加抽奖活动的观众不能一人注册多个帐户登记和参加在线研讨会，如有发现视为无效。
* 活动最终解释权属SI China网站所有。 获奖名单* 200元现金奖：b03212316 moontree flyyoung
* 100元现金奖：chrismes boseed rainman leo 无休001 michellemeng chjd chenzjut 深色的蓝 bradyxie